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| 高低温试验箱所满足的标准 |
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| 时间：2012/1/30 |
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高低温试验箱所满足的标准有：GB/T2423.1-2008 GB/T2423.2-2008等标准，也可根据客户的要求非标定做。
GB/T2423.1-2008电子电工产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
GB/T2423.1-2008适用于非散热和散热试验样品。试验Ab和试验Ad与早期版无实质性的差异，增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。
本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用，运输或贮存的能力。
本低温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力，在这种情况下，应采用GB/T2423.22。
本低温试验方法细分为以下几种：
—非散热试验样品低温试验：
试验Ab，温度渐变。
—散热试验样品低温试验：
试验Ad，温度渐变。
试验Ae，温度渐变，试验样品在整个试验过程通电。
本部分给出的试验方法通常用于试验期间能达到温度稳定的试验样品。
GB/T2423.1-2008电子电工产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
GB/T2423.2-2008适用于非散热和散热试验样品。试验Bb和试验Bd与早期版无实质性的差异。
本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用，运输或贮存的能力。
本低温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力，在这种情况下，应采用GB/T2423.22。
本低温试验方法细分为以下几种：
—非散热试验样品低温试验：
试验Bb，温度渐变。
—散热试验样品低温试验：
试验Bd，温度渐变。
试验Be，温度渐变，试验样品在整个试验过程通电。
本部分给出的试验方法通常用于试验期间能达到温度稳定的试验样品。 |
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